XRF光譜分析儀是如何工作的？

點(diǎn)擊次數：125 更新時(shí)間：2024-06-29

　　XRF光譜分析儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法?？梢詧绦锌焖偾覝蚀_的完整無(wú)損分析，并可用于測試多種元素?？赏ㄟ^(guò)該技術(shù)快速獲知樣品中存在的具體元素，并利用校準得知元素的具體占比。

　　XRF光譜分析儀主要由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。激發(fā)源產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn))，這些射線(xiàn)照射到被測樣品上，與樣品中的原子發(fā)生相互作用，使得樣品產(chǎn)生荷電粒子和X射線(xiàn)的散射輻射(二次X射線(xiàn))。探測器對產(chǎn)生的X熒光(二次X射線(xiàn))進(jìn)行檢測，測量其能量和數量。儀器軟件將探測系統收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。

　　該設備測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，可以在數秒到幾分鐘內完成樣品中全部待測元素的測定。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象，因此同一試樣可反復多次測量。

　　本公司提供的xSORT XRF光譜分析儀具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿(mǎn)足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復雜材料的光譜化學(xué)成分分析需要。

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